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熱処理したGaAs基板表面の真空中接触角測定法による評価


大村高正,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一, 日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-13 , 米沢,



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大村高正,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一. <a href='https://edu.yz.yamagata-u.ac.jp/developer/Asp/Youzan/Academic/@Meeting.asp?nMeetingID=152'> <q><cite> 熱処理したGaAs基板表面の真空中接触角測定法による評価 </q></cite> </a>.
日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-13, 米沢. 2003.
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