HOME 教育状況公表 令和3年9月25日
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接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価


清野誠人,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一, 日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-12 , 米沢,



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清野誠人,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎,松下浩一. <a href='https://edu.yz.yamagata-u.ac.jp/developer/Asp/Youzan/Academic/@Meeting.asp?nMeetingID=153'> <q><cite> 接触角測定法によるフッ酸処理GaAs基板表面の評価 </q></cite> </a>.
日本表面科学会東北支部講演会 (米沢, 2003.3) P-12, 米沢. 2003.
</article>
</li>
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