HOME 教育状況公表 本日

導電性高分子アルミ固体電解コンデンサの漏れ電流に影響を及ぼす要因について

\
〔ログイン〕
Youzan

電解コンデンサアルミニウムアノード酸化皮膜が絶縁体として使われているしかしながらアノード酸化得られる酸化皮膜の結晶は不完全でありその絶縁性は酸化皮膜電解液界面よって実現されていると言っていいデジタル機器発達によって電解コンデンサ高周波動作求められそれに応えて導電性高分子アルミ電解コンデンサが実用化されたこれにはイオン伝導性の電解液のかわりに電子伝導性の導電性高分子使っている酸化皮膜と導電性高分子界面実現される絶縁性についての議論がすくなく何が漏れ電流や耐電圧に影響及ぼしているのかその要因については不明な点が多かった

筆者らは定電圧印加時の漏れ電流がカソード箔によって左右されること見出し導電性高分子アルミ電解コンデンサ漏れ電流影響及ぼす要因について議論したのでそれ報告する

高分子アルミ固体電解コンデンサ漏れ電流従来の電解液使ったアルミ電解コンデンサと異なる要因が考えられる本研究ではアルミニウムの不純物や導電性高分子の添加剤陰極箔の表面状態などの観点から漏れ電流の生じるメカニズムついて考察する

カーボンアルミ箔のリチウム二次電池用正極への適応について1)



QRコード
https://edu.yz.yamagata-u.ac.jp/developer/Asp/Youzan/Academic/@MeetingView.asp?nMeetingID=410

SSLの仕組み

このマークはこのページで 著作権が明示されない部分について付けられたものです。

山形大学 データベースアメニティ研究所
〒992-8510 山形県米沢市城南4丁目3-16 3号館(物質化学工学科棟) 3-3301
准教授 伊藤智博
0238-26-3573
http://amenity.yz.yamagata-u.ac.jp/

Copyright ©1996- 2020 Databese Amenity Laboratory of Virtual Research Institute,  Yamagata University All Rights Reserved.