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機器分析学II

機器分析学II Google+ files 53253 C1

受講するにあたって

  1. 分析機器の歴史と分析機器の較正 -JIS規格と計器が示している値-
  2. 物理計測 -長さから顕微鏡で見つめる細菌-
  3. 状態計測 −反応器の状態を監視せよ!-
  4. 測定値の変換と伝送 -センサーの精度、確度、寿命-
  5. 測定値の記録と管理 -記録メディアとデータベース-
  6. 品質管理と機器分析 -異物・断線・不純物と工業製品-
  7. 機器の導入、運用、保守と費用対効果 -分析機器は商品を安くできるか?
  8. 液体材料の成分分析 -エネルギーを与えて情報を得よう-
  9. 固体材料の成分分析と組織分析 -X線分光法,粒度分布,顕微鏡ー
  10. 分散系や複合材料の分析 -粘度,粘弾性,ポワソン比-
  11. 表面や界面や分析 -密着性試験,表面堅牢性-
  12. 物性計測 -導電率,誘電率,磁率,磁化率,熱伝導性-
  13. 製品の特性評価 -電池のインピーダンスと活物質分析-
  14. 安全性試験と劣化解析 -燃焼試験,加速度試験,下水モニタリング-
  15. まとめと論文作成
イラスト図解 工場のしくみ
山形大学 大学院 理工学研究科 C1ラボラトリー
〒992-8510 山形県米沢市城南4丁目3-16 3号館(物質化学工学科棟) 3-3301
准教授 伊藤智博
0238-26-3753
http://c1.yz.yamagata-u.ac.jp/

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