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プローブ

探針測定さきっぽオシロスコープ接続端子形状センサーしこまれているさきっぽ固体表面機器分析使われる入射粒子や入射電子ビームX線紫外線などがよく使われます表面から反射してくる粒子電子イオンX線光線分析します

電気化学測定目次1)
(1電気化学測定法(目次)
藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).