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Hydrofluoric-Treated GaAs Surfaces Analyzed by Contact Angle Measurement and Auger Electron Spectroscopy

Hydrofluoric-Treated GaAs Surfaces Analyzed by Contact Angle Measurement and Auger Electron Spectroscopy, Jpn. J. Appl. Phys.,Ⅰ 35（10）（1996）（共著）K.Matsushita, N.Suzuki, S.Okuyama and Y.Kumagai
, Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, No.10, pp.5293-5296 , 1996-10-1


<!--　論文、特許、論文、特許　-->

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<article>

K.Matsushita, N.Suzuki, S.Okuyama and Y.Kumagai.
<a href='https://edu.yz.yamagata-u.ac.jp/developer/Asp/Youzan/Academic/@Achievement.asp?nAchievementID=3955'>
<q><cite>
Hydrofluoric-Treated GaAs Surfaces Analyzed by Contact Angle Measurement and Auger Electron Spectroscopy
</q></cite>
</a>.

, .
1996.

</article>

</li>

</ul>

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