松下浩一, 門原拓也,中山健,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎
,
電子情報通信学会論文誌,C, Vol.J84-C, No.2, pp.136-143
,
<!-- 論文、特許、論文、特許 -->
<ul>
<li>
<article>
松下浩一, 門原拓也,中山健,長沼博,奥山澄雄,奥山克郎.
<a href='https://edu.yz.yamagata-u.ac.jp/developer/Asp/Youzan/Academic/@Achievement.asp?nAchievementID=16462'>
<q><cite>
高真空中接触角測定法によるGaAs表面状態の「その場」観察
</q></cite>
</a>.
, .
2001.
</article>
</li>
</ul>
<!-- 論文、特許、論文、特許 -->