⇒#55@装置;| 取扱 | 正 | 管理者 |
| 責任者 | 副 |
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 製品ＩＤ | 73 |
| 場所・区画 | 〔3〕 |
| キャビネット | 〔 0 〕 |
平成１０年８月
・500V～30kVで加速された電子線を光源とし，SEM用として製作された試料を観察，評価する装置。
・高分子材料等の表面観察用。
・2次電子像による15倍から20万倍までの観察が可能。
・試料水平移動距離 80mm×40mm。傾斜角-10～+90°。作動距離6～48mm
部 局 名 工学部
学科等 機能高分子工学科
担 当 者 石川 優 岡本 健三
内 線 ３０６１ ３０４３
e-mail ishikawa@yz.yamagata-u.ac.jp
・事前に十分な講習を受け，許可を得れば本人が使用可能。
・使用の都度担当者へ連絡し予約をとること。
山形大学
データベースアメニティ研究所