Ｘ線回折

リガク：RINT

平成元年
・結晶構造解析装置。
・２θ-θ測定。
・パウダー，薄膜，単結晶試料の測定可。
部　局　名 工学部
学科等 電気電子工学科
担　当　者 大嶋　重利
内　　　線 ３２８６
e-mail ohshima@yz.yamagata-u.ac.jp
・講習の予定無し。使用法を理解している者のみの使用を届出後に許可。
・トラブルの場合使用者およびその所属グループの責任において迅速に現状復帰のこと。

この 装置 Ｘ線回折が設置されている 区画

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•  地域共同研究センター　１Ｆ　共同利用室
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